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11200電容漏電流/絕緣電阻表技術(shù)參數(shù)
點(diǎn)擊次數(shù):1223 更新時(shí)間:2020-08-06

11200電容漏流/絕緣電

主要特色:

  • 電容漏電流測試功能
  • 絕緣電阻測試功能
  • 基本準(zhǔn)確度: 0.3%
  • 定電流DC電源含放電功能
  • 順向電壓測試功能, 二極體diode, LED,Zener diode與varistor測試應(yīng)用
  • 電解電容浪湧電壓測試功能(符合JIS C5101/5102/5140/5141測試需求)
  • 選配接觸檢查功能, 提升測試可信賴性
  • 鋁箔耐壓與上升時(shí)間測試功能(符合EIAJ RC-2364A測試需求)
  • 精密的微小定電流充電能力 (0.5mA±0.05mA, 符合EIAJ RC-2364A測試需求)
  • 大電流充電能力(500mA)提升充電速度
  • 測試電壓1.0V~650V/800V
  • 0.001uA~20.00mA漏電流量測範(fàn)圍與4位數(shù)顯示解析度
  • 內(nèi)建數(shù)位式計(jì)時(shí)器
  • 比較器與良品/不良品警示聲響功能
  • 標(biāo)準(zhǔn)的RS-232介面
  • 可選購GPIB & handler介面

應(yīng)用

  • 各類型電解電容, 高介電陶瓷電容
  • 鋁箔耐壓測試 (符合EIAJ RC-2364A需求)
  • 半導(dǎo)體元件漏電流或絕緣電阻測試
  • 各類型抗靜電材料, 非超高絕緣材料 (IR

Chroma 11200電容漏電流/絕緣電阻錶為Chroma 新推出的數(shù)位式漏電流量測儀表,提 供1~650V, 0.5~500mA(150mA當(dāng)V>100V)或1~800V, 0.5~500mA (50mA當(dāng)V>100V)的直流電源,具備電壓錶與奈安錶,主要應(yīng)用於電解電容漏電流與鋁箔耐壓的測試(EIAJ RC-2364A), 亦可應(yīng)用於突波吸收器、齊納二極體、霓虹燈管等產(chǎn)品的工作電壓檢查與漏電流量測。藉由標(biāo)配 的RS-232介面、選配的GPIB & Handler介面與穩(wěn)定的量測表現(xiàn),Chroma 11200既能夠於產(chǎn)線 上作為元件特性的評(píng)估方案,也能成為提供基礎(chǔ)漏電流與絕緣電阻測試功能的桌上型儀表。

1~650V, 150mA/500mA或1~800V,  50mA/500mA 低雜訊直流電壓源

Chroma 11200是以低雜訊的線性電源供應(yīng)器設(shè)計(jì),輸出直流電壓範(fàn)圍從1.0V到650V/800V, 從低耐壓電容的漏電流測試到鋁箔耐壓測試的範(fàn)疇皆能適用,大充電電流為500mA/100V, 150mA/650V或50mA/800V,對(duì)於大容量產(chǎn)品能夠快速地充電。

精密的微小定電流充電能力 (0.5mA ±0.05mA)

鋁電解電容正極鋁箔的氧化膜通常是以極低的定電流來測試鋁箔皮膜耐壓與電壓上升時(shí)間( 由EIAJ RC-2364A標(biāo)準(zhǔn)定義,根據(jù)不同鋁箔形式,測試電流為0.5mA, 1mA或2mA ±10%),Chroma 11200可提供高穩(wěn)定度且低0.5mA的 充電定電流。

0.001μA~20.00mA 漏電流測試範(fàn)圍與4位數(shù)顯示解析度

Chroma 11200內(nèi)建0.001uA到20mA測試範(fàn)圍的奈安錶,適合應(yīng)用於電解電容、高介電陶瓷電容的漏電流或絕緣電阻測試,其超低輸入電阻的設(shè)計(jì)(低0Ω)能夠?qū)崿F(xiàn)高電容量元件的快速測試。

輸出電壓監(jiān)控

為了確保操作者的安全,不論是在測試中或是在 操作設(shè)定的狀態(tài),Chroma 11200都會(huì)持續(xù)監(jiān)控實(shí)際的輸出電壓,除了在測試頁面上顯示實(shí)際輸 出電壓值,在其他操作頁面中,當(dāng)輸出電壓異常 超過10V,會(huì)顯示錯(cuò)誤訊息。

65W/50W 多段定功率放電電路

為了在測試後達(dá)成快速且*地放電,Chroma 11200內(nèi)建有65W/50W的多段定功率放電電路,能夠滿足充電大電容的快速放電需求。

標(biāo)配RS-232介面與選配GPIB & Handler介面

Chroma 11200標(biāo)配的RS-232介面能應(yīng)用於研發(fā) 或品質(zhì)檢驗(yàn)端,遠(yuǎn)端控制儀器並收集測試資料, GPIB & Handler介面則可依自動(dòng)化需求選購。