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6416掌上型光時域反射計

簡要描述:

產品綜述
6416掌上型光時域反射計是針對FTTx而設計的測試儀器。該產品主要用于測量光纖光纜的長度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性,并能對光纖線路中的事件點、故障點準確定位。廣泛應用于光纖通信系統的工程施工、維護測試及緊急搶修;光纖光纜的研制與生產測試等。

更新時間:2018-11-07

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6416掌上型光時域反射計

6416掌上型光時域反射計

產品綜述

6416掌上型光時域反射計是針對FTTx而設計的測試儀器。該產品主要用于測量光纖光纜的長度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性,并能對光纖線路中的事件點、故障點準確定位。廣泛應用于光纖通信系統的工程施工、維護測試及緊急搶修;光纖光纜的研制與生產測試等。

    6416外觀結構采用業界zui為*的雙色雙料一體化模具設計工藝,外觀新穎亮麗、堅固耐用、操作非常方便,采用高級防反射LCD顯示,使得野外環境下操作界面清晰可見,整機采用雙路供電方式,大容量鋰電池使整機的工作時間長達10小時以上,該產品具有兩種USB接口形式,既可接入U盤,也能通過USB數據線與PC機通信。同時,為方便操作人員攜帶方便,該產品采用了更人性化的設計,為儀器配備了舒適的背帶。

功能特點

主要特點:

  掌上型、重量輕、便于攜帶;

  業界zui*的雙色雙料一體化模具工藝,堅固耐用;

  高級防反射LCD,野外環境下顯示界面清晰可見;

  1m超短事件盲區,測試光纖跳線輕松自如;

  具有自動及手動測試功能;

  自動來光監測功能;

  觸摸屏和按鍵雙重操作;

  雙USB接口功能,既可外接U盤,也能通過SyncActive軟件與PC機通信;

  •  

  支持Bellcore GR196及SR-4731文件格式;

  智能電池電量指示及電池低電壓告警功能;

  WinCE視窗操作系統,中英文操作界面;

  超過10小時的超長電池續航時間,適于長時間野外施工;

  內置VFL可視紅光故障定位功能;

  OTDR光輸出頭采用可更換方式,端面清潔更加方便;

  應用軟件在線升級,無需返回原廠。

  超短事件盲區

 6416具有超短的事件盲區,尤其適于對超短的光纖鏈路或光纖跳線的測試。

快速自動測試

6416的自動測試功能使得用戶無需了解更多的有關該儀器操作的細節,測試步驟變得非常簡單,只需要接入光纖、點擊【測試】按鈕即可,儀器會自動設置zui佳測試條件并zui終給出準確的測試結果,如測試曲線和事件列表等。

  快速曲線分析

6416能夠快速準確地查找出測試曲線中的事件點或故障點及其位置信息,并以事件表的形式列出線路中所有的事件信息,這對線路維護人員非常有用,既提高測試效率,又無需了解煩瑣的背景知識。

*的文件管理

6416具有強大的文件管理功能,除了能對機內或U盤中的文件進行存儲、瀏覽、刪除外,還能夠外接基于PCL語言的激光打印機或噴墨打印機,以便打印測試報表。

除此之外,6416還可借助SyncActive軟件通過USB數據線與PC機高速通信。

文件管理及數據傳輸 

  便利的VFL功能

借助6416的可視紅光故障定位(VFL)功能可以非常方便、快捷地發現短距離光纖鏈路中斷點或大的損耗點位置,以便維護人員及時采取措施,節省時間。

自動來光監測及告警功能

    當OTDR測試光纖鏈路時,如果光纖中有通信光信號,會造成測試結果不準確,甚至會對儀器的光探測器造成不可恢復的損壞。6416 具有對被測光纖中的通信光信號自動監測功能,一旦光纖接入到6416的光接口中,系統將自動監測光纖中是否有通信光信號,一旦監測有光信號,將告警提示,為儀器提供zuizui及時的保護。

典型應用

6416掌上型光時域反射計主要用于對FTTx網路的測試。該產品為用戶提供了一種低成本的測試方案,具有手動測試(實時測試、平均測試)、自動測試和盲區測試3種模式。

手動測試模式:該測試模式適于那些對該儀器比較了解的熟練操作者,因此能夠得到更加準確的測試結果。在手動測試模式中,用戶可根據測試需要選擇實時測試模式或平均測試模式。

實時測試可快速檢測光纖鏈路的動態變化,應用于需要實時監測或觀察光纖鏈路的對接過程及效果。

平均測試模式可以盡zui大可能地抑制測試曲線中的噪聲,從而得到更加精確的測試結果。在平均測試模式中,平均次數越大,則對噪聲的抑制效果越好,但測試時間也相應的延長,因此,在實際使用中,可根據需要靈活設置平均次數。

自動測試模式:該模式下,儀器能夠自動設置zui佳測試條件,并給出測試結果,無需操作者了解復雜的背景知識和有關儀器操作的細節。為了提高自動測試的精度,可以適當加大自動測試時的平均次數,但將延長自動測試的時間。

      盲區測試模式:該模式適用于對超短距離光纖的測試,如測試光纖跳線的長度等,在該模式下,如希望儀器獲得zui好的測試結果,要求被測光纖末端的反射損耗(或稱回波損耗)大于40dB。

 

 

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